FT型熱像儀核心及IR FPA測(cè)試系統(tǒng)
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上海市
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2025-05-29
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產(chǎn)品描述
紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測(cè)器電路(核心)的設(shè)計(jì)是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因?yàn)榧t外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限,紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識(shí)。因此,測(cè)量紅外焦平面陣列性能的測(cè)量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。
Inframet TFEV測(cè)溫儀測(cè)試系統(tǒng)
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TFEV測(cè)溫儀測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)發(fā)熱篩查用測(cè)溫儀。TFEV測(cè)試的概念是基于IEC 80601-2-59標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的“人體發(fā)熱篩檢測(cè)溫儀的基本安全性和基本性能的特殊要求”。
THP太赫茲相機(jī)測(cè)試系統(tǒng)
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THP太赫茲相機(jī)測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試被動(dòng)式太赫茲相機(jī),所使用的測(cè)試方法與LAFT熱像儀測(cè)試系統(tǒng)一致:一段距離外的參考靶標(biāo)經(jīng)被測(cè)熱像儀成像,分析生成的圖像質(zhì)量。能夠測(cè)試MRTD, MTF, NETD, FPN, 不均勻性, FOV。
inframetORI 光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)
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ORI 光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)是一臺(tái)通用型光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以測(cè)量鏡頭的所有重要參數(shù):MTF,分辨率,EFL,畸變,漸暈,透過率,BFL,工作焦距,焦深,場(chǎng)曲,色差等。
Inframet OPO 望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)
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OPO望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)是一套用于測(cè)試光學(xué)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)的模塊化多功能測(cè)試系統(tǒng),OPO測(cè)試系統(tǒng)支持一系列重要參數(shù)的測(cè)試:分辨率,MTF(軸上,離軸),放大率,畸變,視場(chǎng),透過率,漸暈,出瞳距離,出瞳直徑,屈光度范圍,視差等。被測(cè)望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)可以由這些參數(shù)來(lái)表征其性能。OPO測(cè)試系統(tǒng)對(duì)于望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)的生產(chǎn)商,采購(gòu)商或者維修站來(lái)說都是優(yōu)良的測(cè)試工具。